VMS0745H4K高清4K電子顯微鏡數碼體視
VMS0756H4K是連續(xù)變倍連續(xù)變倍鏡頭顯微鏡主體、4KHDMI相機和10英寸的顯示器（選配其他尺寸顯示器）、LED環(huán)形光源組成。立體顯微鏡操作方便、直觀、檢定效率高,適用于電子工業(yè)生產線的檢驗、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現的焊接缺陷（印刷錯位、塌邊等）的檢定、單板PC的檢定、真空熒光顯示屏VFD的檢定等等，立體顯微鏡將實物的圖像放大后顯示在計算機的屏幕上，可以將圖片編輯、保存和打印。配測量軟件可以測量各種數據。
VMS171A高清三目連續(xù)變倍體視顯微鏡
VMS171A三目連續(xù)變倍體視顯微鏡采用LED上下光源，具有高分辨率，高清晰度和強立體感等特點，并且可連續(xù)變倍。創(chuàng)新推拉式三通切換拉桿，定格定倍機構以及倍率限位功能設計，進一步緩和了使用者長時間操作帶來的疲勞感，符合人機工程學原理。廣泛用于教學示范、生物解剖、農林業(yè)的種子檢查篩選、公安部門的刑偵檢測，電子精密部件裝配檢修，紡織業(yè)的品質控制、 文物郵票的輔助鑒別及各種物質表面觀察。
CM80BD研究級高分子材料檢測顯微鏡
研究級材料檢測顯微鏡CM80BD采用全新半復消技術，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現清晰銳利的顯微圖像，或根據實際應用進行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。配有8寸大平臺特別是針對大尺寸的半導體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時該產品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機配備了偏振系統包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節(jié)更加清晰。360度旋轉式檢偏器可以在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態(tài).同時可以在在正交偏光的基礎上，插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術可以使物體表面微小的高低差產生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導電粒子。
CM80BD-AF電動研究級8寸大平臺金相顯微鏡
電動研究級材料檢測顯微鏡CM80BD-AF采用全新半復消技術，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現清晰銳利的顯微圖像，或根據實際應用進行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。機器采用電動轉換器，物理按鈕和軟件雙控，進行遠位數調節(jié)。8寸大平臺特別是針對大尺寸的半導體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時該產品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機配備了偏振系統包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節(jié)更加清晰。360度旋轉式檢偏器可以在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態(tài).同時可以在在正交偏光的基礎上，插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術可以使物體表面微小的高低差產生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導電粒子。
CM60BD研究級金相材料檢測顯微鏡
研究級材料檢測顯微鏡CM60BD采用全新半復消技術，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現清晰銳利的顯微圖像，或根據實際應用進行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。配有6寸大平臺特別是針對大尺寸的半導體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時該產品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機配備了偏振系統包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節(jié)更加清晰。360度旋轉式檢偏器可以在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態(tài).同時可以在在正交偏光的基礎上，插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術可以使物體表面微小的高低差產生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導電粒子。
CM60BD-AF電動研究及金相顯微鏡晶圓檢測半導體FPD檢查
電動研究級材料檢測顯微鏡CM60BD-AF采用全新半復消技術，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現清晰銳利的顯微圖像，或根據實際應用進行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。機器采用電動轉換器，物理按鈕和軟件雙控，進行遠位數調節(jié)。6寸大平臺特別是針對大尺寸的半導體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時該產品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機配備了偏振系統包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節(jié)更加清晰。360度旋轉式檢偏器可以在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態(tài).同時可以在在正交偏光的基礎上，插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術可以使物體表面微小的高低差產生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導電粒子。
CM40BD研究級材料檢測顯微鏡金相分析
研究級材料檢測顯微鏡CM40BD采用全新半復消技術，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現清晰銳利的顯微圖像，或根據實際應用進行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。特別是針對中小尺寸的半導體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時該產品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機配備了偏振系統包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節(jié)更加清晰。360度旋轉式檢偏器可以在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態(tài).同時可以在在正交偏光的基礎上，插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術可以使物體表面微小的高低差產生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導電粒子。
CM40BD-AF電動研究級材料檢測顯微鏡
電動研究級材料檢測顯微鏡CM40BD-AF采用全新半復消技術，集明場，暗場及偏光等多種照明方式，任何觀察都能呈現清晰銳利的顯微圖像，根據實際應用進行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。機器采用電動轉換器，物理按鈕和軟件雙控，進行遠位數調節(jié)。特別是針對中小尺寸的半導體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測同時該產品還適用于金相材料，高分子材料的分析檢測，本機配備了偏振系統包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節(jié)更加清晰。360度旋轉式檢偏器可以在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態(tài).同時可以在在正交偏光的基礎上，插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術可以使物體表面微小的高低差產生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度，特別適合觀察導電粒子。
CMD-2010M工具測量顯微鏡
CMD系列工具顯微鏡，是一種集軟件、光、機、電一體的高精度、高效率的顯微測量儀器，是同時具有高精度線性測量和觀察功能的多功能量測儀器； CMD-2010M主體機構通過搭配MT三目光學測量鏡筒、高清數字相機、照明裝置、升降機構及對焦機構，具有多種數據測量、顯微放大、顯示輸入和輸出等數據處理功能。
VM3500M科研級透反射金相顯微鏡金相組織分析
科研級三目正置透反射金相顯微鏡VM3500M采用優(yōu)質的無限遠色差校正光學系統，全新設計的一體化T型機架，全金屬高壓模鑄而成，穩(wěn)定性強，高倍觀察時像面無抖動，確保高倍測量的檢測精度。內置明場、偏光觀察功能，單顆10W LED暖白光照明圖像高亮度、高分辨率、正色還原。適合觀察金相試樣分析，工業(yè)檢測電子芯片等樣品。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。
VMS171A-4KR三目連續(xù)變倍體視顯微鏡上下光源4K高清輸出
VMS171A-4KR高清4K連續(xù)變倍體視顯微鏡廣泛用于教學示范、生物解剖、農林業(yè)的種子檢查篩選、公安部門的刑偵檢測，電子精密部件裝配檢修，紡織業(yè)的品質控制、 文物郵票的輔助鑒別及各種物質表面觀察。
ATE-25三維立體數碼顯微鏡
一、產品概述 ATE-25三維數碼視頻顯微鏡基于無限遠光學系統，0.6-5.0X 連續(xù)變倍主體，0.5XC接口，工作距離86mm。配備1/2” SONY CMOS圖像傳感器相機，1920*1080分辨率?？蓮V泛應用于微電子、精密電子、精密五金件、深孔壁、生命科學、動植物形態(tài)、刑偵鑒定等等行業(yè)