一種可用來(lái)研討包含盡緣體在內(nèi)的固體資料表面構(gòu)造的剖析儀器。它通過(guò)檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來(lái)研討物資的表面構(gòu)造及性質(zhì)。將一對(duì)微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一真?zhèn)€渺小針尖接近樣品，這時(shí)它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂產(chǎn)生形變或活動(dòng)狀況產(chǎn)生變更。掃描樣品時(shí)，應(yīng)用傳感器檢測(cè)這些變更，就可獲得作用力散布信息，從而以納米級(jí)辨別率獲得表面構(gòu)造信息。它重要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運(yùn)動(dòng)檢測(cè)裝置、監(jiān)控其活動(dòng)的反饋回路、使樣品進(jìn)行掃描的壓電陶瓷掃描器件、盤算機(jī)把持的圖像采集、顯示及處置體系組成。微懸臂活動(dòng)可用如隧道電流檢測(cè)等電學(xué)辦法或光束偏轉(zhuǎn)法、干預(yù)法等光學(xué)方式檢測(cè)，當(dāng)針尖與樣品充足接近相互之間存在短程相互斥力時(shí)，檢測(cè)該斥力可獲得表面原子級(jí)辨別圖像，一般情形下分辯率也在納米級(jí)程度。AFM丈量對(duì)樣品無(wú)特別請(qǐng)求，可丈量固體表面、吸附系統(tǒng)等。
原子力顯微鏡:是一種應(yīng)用原子,分子間的相互作用力來(lái)察看物體表面微觀形貌的新型試驗(yàn)技巧.它有一根納米級(jí)的探針,被固定在可敏銳操控的微米級(jí)彈性懸臂上.當(dāng)探針很靠近樣品時(shí),其頂真?zhèn)€原子與樣品表面原子間的作用力會(huì)使懸臂曲折,偏離本來(lái)的地位.依據(jù)掃描樣品時(shí)探針的偏離量或振動(dòng)頻率重建三維圖像.就能間接獲得樣品表面的形貌或原子成分.
長(zhǎng)處與毛病
相對(duì)于掃描電子顯微鏡，原子力顯微鏡具有很多長(zhǎng)處。不同于電子顯微鏡只能供給二維圖像，AFM供給真正的三維表面圖。同時(shí)，AFM不須要對(duì)樣品的任何特別處置，如鍍銅或碳，這種處置對(duì)樣品會(huì)造成不可逆轉(zhuǎn)的損害。第三，電子顯微鏡須要運(yùn)行在高真空條件下，原子力顯微鏡在常壓下甚至在液體環(huán)境下都可以良好工作。這樣可以用來(lái)研討生物宏觀分子，甚至活的生物組織。
和掃描電子顯微鏡(SEM)相比，AFM的毛病在于成像范疇太小,速度慢，受探頭的影響太大。
本文地址:http://m.hkxccw.cn/old_version/books/tech/1006.html
出自: 顯微鏡報(bào)價(jià)網(wǎng) 轉(zhuǎn)載時(shí)請(qǐng)標(biāo)明出處.
如果您有任何需求或疑問(wèn)，歡迎您來(lái)電與我們?nèi)〉寐?lián)系！
郵件與傳真
