原子力顯微鏡（ AFM ）的原理是應(yīng)用針尖與樣品表面原子間的微弱作用力來作為反饋信號(hào)，保持針尖——樣品間作用力恒定，同時(shí)針尖在樣品表面掃描，從而得知樣品表面的高下起伏。
AFM 的基礎(chǔ)構(gòu)造與 STM 類似，原子間作用力的檢測(cè)重要由光杠桿技巧來實(shí)現(xiàn)。假如探針和樣品間有力的作用，懸臂將會(huì)曲折。為檢測(cè)懸臂的渺小曲折量（位移），采取激光照耀懸臂的尖端，四象限探測(cè)器就可檢測(cè)出懸臂的偏轉(zhuǎn)。
通過電子學(xué)反饋體系使曲折量堅(jiān)持必定，即把持掃描管Z 軸使作用于針尖——樣品間的力堅(jiān)持必定。在掃描的同時(shí)，通過記載反饋信號(hào)就可以得到樣品表面的形貌。
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