是否與你的樣品工作比只是表面成像覆蓋的更多信息？你也想??知道有關(guān)的化學(xué)成分或樣品的形態(tài)？你關(guān)于深入三維體積特征珍玩？或者你甚至打算修改或處理您的樣品嗎？
AURIGA ®新的橫梁®工作站從卡爾蔡司SMT（FIB - SEM）正好提供了這一切 - 在納米級的規(guī)模。 AURIGA ®使用Zui佳的FIB列和專有雙子座電子束從卡爾蔡司列，連同一個完全新的先進的分析設(shè)計的真空室，協(xié)助您獲得Zui大的信息可能出樣品的。
獨特的成像
非導(dǎo)電性標本與當?shù)刎撠熧r償使用所有標準的探測器成像
地形和成分的信息，具有獨特的探測器計劃，包括ESB技術(shù)的同時檢測
雙子座的磁性樣本調(diào)查®物鏡設(shè)計
高級分析
非導(dǎo)電材料的分析與當?shù)刎撠熧r償
多用途室，15個附件端口
同時整合EDS，EBSD技術(shù)，莖，WDS，SIMS等的優(yōu)化腔幾何
精密加工
創(chuàng)新的FIB技術(shù)與Zui佳的分辨率（<2.5 nm的）
高分辨率生活FE - SEM監(jiān)測的整個籌備過程中
先進的氣體離子和電子束輔助刻蝕和沉積的加工技術(shù)
未來的保證
基于雙子座® FE - SEM技術(shù)的可擴展的平臺概念
增值functionalit模塊化積木
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