Aixo Imager研究級(jí)偏光顯微鏡
用于研究任務(wù)的正置型顯微鏡
專為所有偏光顯微實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)——從礦物和纖維特征觀察到微觀區(qū)域的錐光觀察。適用于礦物學(xué)、結(jié)晶學(xué)、地質(zhì)學(xué)，以及玻璃、建材、光纖以及紡織工業(yè)。
以下是值得您信賴的特點(diǎn)
超高分辨率，結(jié)合多種襯度方法，呈現(xiàn)更多觀察信息
快速精確的無(wú)畸變檢驗(yàn)方法與錐光檢驗(yàn)技術(shù)
創(chuàng)新的人機(jī)工程學(xué)運(yùn)作理念
可擴(kuò)展模塊化系統(tǒng)架構(gòu)，便于日后手動(dòng)或電動(dòng)部件的升級(jí)
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