偏光顯微鏡（polarizingmicroscope）
偏光顯微鏡是用于研討所謂透明與不透明各向異性資料的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物資，在偏光顯微鏡下就能辨別的明白，當然這些物資也可用染色法來進行察看，但有些則不可能，而必需應用偏光顯微鏡。
（1）偏光顯微鏡的特色
將普通光轉變?yōu)槠窆膺M行鏡檢的方式，以辨別某一物資是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基礎特征。因此，偏光顯微鏡被普遍地利用在礦物、化學等范疇，在生物學和植物學也有運用。
（2）偏光顯微鏡的基礎原理
偏光顯微鏡的原理比擬龐雜，在此不作過多先容,偏光顯微鏡必需具備以下附件：起偏鏡，檢偏鏡，補償器或相位片，專用無應力物鏡，旋轉載物臺。
（3）偏光鏡檢術的方法
a.正相鏡檢（orthscope）:又稱無畸變鏡檢，其特色是應用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡（bertrandlens）,被研究對象可直接用偏振光研討。同時為使照明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢討物體的雙折射性。
b.錐光鏡檢（conoscope）：又稱干預鏡檢，研討在偏振光干涉時發(fā)生的干預圖樣，這種方式用于察看物體的單軸或雙軸性。在該辦法中，用強會聚偏振光束照明。
（4）偏光顯微鏡在裝置上的請求
a.光源：Zui好采取單色光，由于光的速度，折射率，和干預現(xiàn)象由于波長的不同而有差別。一般鏡檢可應用普通光。
b.目鏡：要帶有十字線的目鏡。
c.聚光鏡：為了取得平行偏光，應應用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。
d.伯特蘭透鏡：聚光鏡光路中的幫助部件，這是把物體所有造成的低級相放大為次級相的幫助透鏡。它可保證用目鏡來察看在物鏡后焦平面中形成的平涉圖樣。
（5）偏光鏡檢術的請求
a.載物臺的中心與光軸同軸。
b.起偏鏡和檢偏鏡應處于正交地位。
c.制片不宜過薄。
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