顯微鏡,顯微鏡價(jià)格,顯微鏡的價(jià)格

Dimension V 掃描探針顯微鏡

Dimension V 掃描探針顯微鏡 （SPM） 在同一套系統(tǒng)上實(shí)現(xiàn)原子力顯微技術(shù)（AFM） 和掃描隧道顯微技術(shù)（STM），可以廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓表面特征測(cè)量、刻蝕掩膜、磁介質(zhì)、CD/DVD 檢測(cè)、生物材料、光學(xué)以及其它領(lǐng)域大直徑樣品（直徑可達(dá)200mm）。其激光調(diào)節(jié)系統(tǒng)以及無(wú)需額外工具切換掃描技術(shù)的能力確保該系統(tǒng)廣泛的適用范圍、簡(jiǎn)單的使用方式以及科研產(chǎn)出能力。
Dimension V 系統(tǒng)基于若干成熟技術(shù)：Dimension 架構(gòu)、先進(jìn)的 Hybrid XYZ 掃描器以及Zui新的 NanoScope V 控制器，因而成為卓越的高分辨成像顯微鏡、高精度的納米刻蝕手段以及Zui直觀的納米尺度操縱工具。該系統(tǒng)的Hybrid XYZ掃描器將系統(tǒng)噪音降低6倍，同時(shí)，其擁有高精度的X/Y控制以確保分子級(jí)的納米操縱；擁有準(zhǔn)確的三向閉環(huán)控制尤其適合于分子生物"拉伸"技術(shù)。
該系統(tǒng)集成的全新 NanoScope V 控制器確保了可靠、高速的數(shù)據(jù)采集能力，采集空間可達(dá) 5000×5000 的高象素密度。因而研究人員可以在之前的 SPM 技術(shù)中是無(wú)法實(shí)現(xiàn)的時(shí)間分辨內(nèi)記錄和分析針尖——樣品相互作用。這種劃時(shí)代的控制器設(shè)計(jì)允許同時(shí)采集和顯示多達(dá)8 個(gè)通道的圖形和數(shù)據(jù)；支持強(qiáng)大的軟件功能性和通用性；支持Easy－AFM這簡(jiǎn)約的圖形化用戶界面軟件，尤其適合于初學(xué)者以及經(jīng)常重復(fù)同一模式、同一類操作的用戶。

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