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維易科 MultiMode V 掃描探針顯微鏡

產(chǎn)品簡介：

MultiMode V SPM 是世界銷量Zui好的掃描探針顯微鏡。它能夠提供全部的原子力顯微鏡 (AFM) 和掃描隧道 (STM) 顯微鏡成像技術(shù)，可以測量樣品的表面特性，如形貌、粘彈性、摩擦力、吸附力和磁/電場分布等等。樣品和探針之間的簡略機械設(shè)計確保了系統(tǒng)的Zui高的掃描速率和Zui大的準(zhǔn)確性。
該系統(tǒng)集成的全新 NanoScope V控制器確保了可靠、高速的數(shù)據(jù)采集能力，采集空間可達 5000×5000 的高象素密度。因而研究人員可以在之前的SPM技術(shù)中是無法實現(xiàn)的時間分辨內(nèi)記錄和分析針尖——樣品相互作用。這種劃時代的控制器設(shè)計允許同時采集和顯示多達8個通道的圖形和數(shù)據(jù)；支持強大的軟件功能性和通用性；支持Easy－AFM這簡約的圖形化用戶界面軟件，尤其適合于初學(xué)者以及經(jīng)常重復(fù)同一模式、同一類操作的用戶。品平移臺。

MultiMode V 掃描探針顯微鏡技術(shù)參數(shù)：

該系統(tǒng)集成的全新 NanoScope V控制器確保了可靠、高速的數(shù)據(jù)采集能力，采集空間可達 5000×5000 的高象素密度。
因而研究人員可以在之前的SPM技術(shù)中是無法實現(xiàn)的時間分辨內(nèi)記錄和分析針尖——樣品相互作用。
這種劃時代的控制器設(shè)計允許同時采集和顯示多達8個通道的圖形和數(shù)據(jù)；支持強大的軟件功能性和通用性；支持Easy－AFM這簡約的圖形化用戶界面軟件，尤其適合于初學(xué)者以及經(jīng)常重復(fù)同一模式、同一類操作的用戶。

本文地址:http://m.hkxccw.cn/old_version/product/spm/veeco-multimode-v.html
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